デバイス温特試験システム ペルチェ 温度特性試験。

ペルチェ素子を使用した温度特性試験の製品を販売しているセンサーコントロールズの「デバイス温特試験システム」のページです。

テスター装着用デバイス温特試験システム

テスターのセットはプッシャーで自動脱着

-40℃から+120℃ペルチェ温度特性試験機

pdt-4408

特 長

  • ぺルチェ素子でデバイスに直接熱伝達、素早い温度変化
  • プローブ型熱電対でパッケージ表面温度を精密温度制御(±0.1℃)
  • テスターの装着はプッシャーで自動化。コンパクト設計で移動も簡単
  • 結露防止用窒素ガスパージ構造付き(オプション:窒素ガス発生装置装着可能)
  • 検査デバイスは8個、駆動ペルチェ素子は4素子温調制御

仕 様

型    式
PDT-4408
使用ペルチェ素子 YT-4040×4個
放熱方式 不凍液循環冷却方式
温度範囲(℃) -40℃~+120℃
温度センサー プローブ型K熱電対
外形寸法(mm) 550×800×1500h
温調ヘッド部(mm) 80×230
温度制御装置 FC-4640型(4CH制御)
電源電圧(V) AC100~200

 ※温調ヘッド部の寸法形状は御社のご要望のサイズに設計いたします。

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